[实用新型]半导体冷热冲击试验箱有效

专利信息
申请号: 202120780442.8 申请日: 2021-04-15
公开(公告)号: CN214584649U 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 吴旭艳 申请(专利权)人: 上海长肯试验设备有限公司
主分类号: G01N3/60 分类号: G01N3/60;G01N3/02
代理公司: 北京沃知思真知识产权代理有限公司 11942 代理人: 高小艳
地址: 201306 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了半导体冷热冲击试验箱,包括试验箱本体,所述试验箱本体内部转动连接有转轴,所述转轴外侧固定套接有试验台,所述试验台数量设置为两个,两个所述试验台垂直等距分布,两个所述试验台两侧均转动连接有铁丝网,所述铁丝网的数量设置为两个,两个所述铁丝网之间相匹配,所述试验台顶部固定连接有支撑杆。本实用新型通过增设试验台,同时增设支撑平台与风机和制冷机相配合,使得半导体在高温和低温之间循环发生位移,可以使半导体快速地、均匀地受冷或受热,试验效果更好,铁丝网可以透出热风和冷风带来的冷热冲击力,增大受力面积,提高效率,通过转动铁丝网,进行散热,恢复常温比较快。
搜索关键词: 半导体 冷热 冲击 试验
【主权项】:
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