[实用新型]半导体冷热冲击试验箱有效
| 申请号: | 202120780442.8 | 申请日: | 2021-04-15 |
| 公开(公告)号: | CN214584649U | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
| 发明(设计)人: | 吴旭艳 | 申请(专利权)人: | 上海长肯试验设备有限公司 |
| 主分类号: | G01N3/60 | 分类号: | G01N3/60;G01N3/02 |
| 代理公司: | 北京沃知思真知识产权代理有限公司 11942 | 代理人: | 高小艳 |
| 地址: | 201306 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 本实用新型公开了半导体冷热冲击试验箱,包括试验箱本体,所述试验箱本体内部转动连接有转轴,所述转轴外侧固定套接有试验台,所述试验台数量设置为两个,两个所述试验台垂直等距分布,两个所述试验台两侧均转动连接有铁丝网,所述铁丝网的数量设置为两个,两个所述铁丝网之间相匹配,所述试验台顶部固定连接有支撑杆。本实用新型通过增设试验台,同时增设支撑平台与风机和制冷机相配合,使得半导体在高温和低温之间循环发生位移,可以使半导体快速地、均匀地受冷或受热,试验效果更好,铁丝网可以透出热风和冷风带来的冷热冲击力,增大受力面积,提高效率,通过转动铁丝网,进行散热,恢复常温比较快。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 冷热 冲击 试验 | ||
【主权项】:
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