[实用新型]半导体冷热冲击试验箱

权利要求书

1.半导体冷热冲击试验箱，包括试验箱本体(1)，其特征在于：所述试验箱本体(1)内部转动连接有转轴(2)，所述转轴(2)外侧固定套接有试验台(3)，所述试验台(3)数量设置为两个，两个所述试验台(3)垂直等距分布，两个所述试验台(3)两侧均转动连接有铁丝网(4)，所述铁丝网(4)的数量设置为两个，两个所述铁丝网(4)之间相匹配，所述试验台(3)顶部固定连接有支撑杆(5)，所述支撑杆(5)数量设置为两个，两个所述支撑杆(5)关于转轴(2)对称分布，所述支撑杆(5)顶部固定连接有支撑平台(6)，所述试验箱本体(1)内部一侧固定连接有风机(7)，所述风机(7)数量设置为两个，两个所述风机(7)分别设置于试验箱本体(1)内部一侧顶部和底部，所述试验箱本体(1)内部靠近风机(7)一侧固定连接有电热丝(8)，所述电热丝(8)远离风机(7)一侧固定连接有出风口(9)，所述试验箱本体(1)内部远离风机(7)一侧固定连接有制冷机(10)，所述制冷机(10)数量设置为两个，两个所述制冷机(10)等距均匀分布于试验箱本体(1)内部一侧。

2.根据权利要求1所述的半导体冷热冲击试验箱，其特征在于：所述试验箱本体(1)一侧转动连接有试验门(11)，所述试验门(11)内部固定连接有观察玻璃(12)，所述试验箱本体(1)靠近试验门(11)一侧固定连接有控制面板(13)，所述试验箱本体(1)顶部开设有排气窗(19)。

3.根据权利要求1所述的半导体冷热冲击试验箱，其特征在于：所述支撑平台(6)底部开设有通孔(14)，所述通孔(14)数量设置为多个，多个所述通孔(14)等距均匀分布于支撑平台(6)底部。

4.根据权利要求1所述的半导体冷热冲击试验箱，其特征在于：所述支撑平台(6)顶部滑动连接有两个夹片(15)，所述支撑平台(6)靠近夹片(15)一侧固定连接有弹簧(16)，所述弹簧(16)远离支撑平台(6)一侧与夹片(15)固定连接，所述弹簧(16)数量设置为多个。

5.根据权利要求1所述的半导体冷热冲击试验箱，其特征在于：所述铁丝网(4)远离试验台(3)一侧固定连接有拉手(17)，所述拉手(17)侧壁固定连接有防滑凸纹，所述防滑凸纹数量设置为多个，多个所述防滑凸纹等距均匀分布于拉手(17)侧壁，多个所述防滑凸纹均由橡胶材料制成。

6.根据权利要求1所述的半导体冷热冲击试验箱，其特征在于：所述试验箱本体(1)内部靠近制冷机(10)一侧设置为倾斜面，所述试验箱本体(1)靠近制冷机(10)一侧底部开设有出水口(18)。