[实用新型]光电接收芯片测试装置有效
| 申请号： | 202120650572.X | 申请日： | 2021-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN214539905U | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 许飞 | 申请（专利权）人： | 合肥瀚信科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 安徽申策知识产权代理事务所(普通合伙) 34178 | 代理人： | 程艳梅 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高新*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了光电接收芯片测试装置，包括测试箱和芯片测试板，所述测试箱的下表面设置有支撑柱，所述测试箱的内侧壁从上至下分别固定连接有上分隔板、限位滑杆和下分隔板，所述测试箱的内左壁和内右壁均嵌设有轴承，所述轴承的内环面固定连接有横向调节丝杠，所述横向调节丝杠的表面螺纹连接有移动螺母。该光电接收芯片测试装置，通过设置芯片测试板、芯片测试槽、横向调节丝杠、移动螺母、伺服电机、上分隔板和芯片测试孔，能够控制伺服电机转动，根据待测试芯片的型号对芯片测试板的位置进行调整，使与待测试芯片相适配的芯片测试槽与芯片测试孔的位置对应，便于将芯片适配放入芯片测试槽内，达到对芯片进行测试的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 接收 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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