[实用新型]一种半导体器件有效

专利信息
申请号: 202120459296.9 申请日: 2021-03-03
公开(公告)号: CN214753772U 公开(公告)日: 2021-11-16
发明(设计)人: 崔傲;吴勇;王东;黄永;陈兴;汪琼;陆俊;陈军飞;袁珂;操焰 申请(专利权)人: 西安电子科技大学芜湖研究院
主分类号: H01L29/40 分类号: H01L29/40;H01L29/78
代理公司: 上海驷合知识产权代理有限公司 31405 代理人: 于秀
地址: 241002 安徽省芜湖市弋江区高*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型公开了一种半导体器件,包括:衬底;半导体层,设置于衬底上;源极、漏极、栅极和钝化层,均设置于半导体层远离衬底的表面上,钝化层和栅极均设置于源极和漏极之间,栅极被包覆于钝化层内;第一源场板,一端设置于钝化层内,另一端延伸于钝化层外,且第一源场板与栅极之间具有第一空气间隔;第二源场板,与源极远离半导体层的端部相连接,并罩设于栅极上;第二源场板与栅极之间具有第二空气间隔。第一源场板和第二源场板的双源场板结构,能够降低栅极和源极之间的电容,提升器件的截止频率,提高该半导体器件的击穿电压。
搜索关键词: 一种 半导体器件
【主权项】:
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