[实用新型]一种半导体量子点器件有效
申请号: | 202120434495.4 | 申请日: | 2021-02-26 |
公开(公告)号: | CN214378456U | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
发明(设计)人: | 孔伟成;张辉;赵勇杰 | 申请(专利权)人: | 合肥本源量子计算科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L29/66 | 分类号: | H01L29/66;H01L29/10;H01L29/45 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 230088 安徽省合肥市合肥市高*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请公开了一种半导体量子点器件,包括硅基底;位于所述硅基底上的二氧化硅层,所述二氧化硅层上形成有离子注入窗口,其中,所述离子注入窗口用于向所述硅基底注入离子;位于所述二氧化硅层上的第一绝缘层,所述第一绝缘层上形成有与所述注入离子欧姆接触的欧姆电极;位于所述二氧化硅层上的量子点窗口,所述量子点窗口位于所述欧姆电极之间且裸漏出所述二氧化硅层;位于所述量子点窗口内的第一金属电极和磁体,其中,所述第一金属电极层叠布置,所述第一金属电极用于形成量子点,所述磁体用于对所述量子点进行调控。通过在所述量子点窗口内形成层叠的第一金属电极,可以对第一金属电极的尺寸和相对位置进行调整,提高了量子点参数的可调性。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 量子 器件 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥本源量子计算科技有限责任公司,未经合肥本源量子计算科技有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202120434495.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种抗压试验用试件调节装置
- 下一篇:一种可移出型现场按钮开关箱
- 同类专利
- 专利分类