[实用新型]芯片自动测试机有效
| 申请号： | 202120311312.X | 申请日： | 2021-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN214669444U | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 陈飞宇;梁发年 | 申请（专利权）人： | 深圳市联合东创科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 史翠 |
| 地址： | 518100 广东省深圳市龙华区福城街道福民*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及检测设备技术领域，具体公开一种芯片自动测试机，包括待测件存储机构、取料机械手、送测输送带、送测载具、送测机械手、测试机构和合格件存储机构；所述待测件存储机构用于存放装载有待测试的芯片的待测料盘；所述合格件存储机构用于存放合格料盘；所述取料机械手用于将所述待测料盘上的芯片放入所述送测载具和将所述送测载具上测试合格的芯片放入所述合格料盘；所述送测输送带用于进行所述取料机械手和送测机械手之间的送测载具转移；所述送测机械手用于进行所述送测载具和测试机构之间的芯片转移。本实用新型提供一种芯片自动测试机，能实现芯片电气测试的流水线作业，进而提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 自动 测试 | ||
【主权项】：
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