[实用新型]芯片自动测试机

权利要求书

1.一种芯片自动测试机，其特征在于，包括待测件存储机构、取料机械手、送测输送带、送测载具、送测机械手、测试机构和合格件存储机构；

所述待测件存储机构用于存放装载有待测试的芯片的待测料盘；

所述合格件存储机构用于存放合格料盘；

所述取料机械手用于将所述待测料盘上的芯片放入所述送测载具和将所述送测载具上测试合格的芯片放入所述合格料盘；

所述送测输送带用于进行所述取料机械手和送测机械手之间的送测载具转移；

所述送测机械手用于进行所述送测载具和测试机构之间的芯片转移。

2.根据权利要求1所述的芯片自动测试机，其特征在于，还包括NG件存储机构；

所述NG件存储机构用于存放NG料盘，所述取料机械手还用于将所述送测载具上测试不合格的芯片放入所述NG料盘。

3.根据权利要求2所述的芯片自动测试机，其特征在于，还包括待复测件存储机构；

所述待复测件存储机构用于存放待复测料盘，所述取料机械手还用于将所述送测载具上需要进行重新测试的芯片放入所述待复测料盘。

4.根据权利要求3所述的芯片自动测试机，其特征在于，还包括空盘存储机构；

所述空盘存储机构用于存放空载的空载料盘，所述取料机械手还用于将所述空盘存储机构上的空载料盘转移至所述合格件存储机构、NG件存储机构和待复测件存储机构。

5.根据权利要求4所述的芯片自动测试机，其特征在于，空盘存储机构、待测件存储机构、合格件存储机构、NG件存储机构和待复测件存储机构并列设置。

6.根据权利要求4所述的芯片自动测试机，其特征在于，所述空盘存储机构、待测件存储机构、合格件存储机构、NG件存储机构和待复测件存储机构均包括升降平台和用于驱使所述升降平台上下运动的直线驱动机构。

7.根据权利要求1所述的芯片自动测试机，其特征在于，所述送测载具包括待测区域和已测区域；

所述取料机械手用于将所述待测料盘上的芯片转移至所述送测载具的待测区域；

所述送测机械手用于将所述测试机构处的芯片转移至所述已测区域。

8.根据权利要求1所述的芯片自动测试机，其特征在于，每一所述取料机械手对应设置两所述送测输送带；

每一所述送测输送带对应设置一所述送测载具和一所述送测机械手；

每一所述送测机械手对应设置四沿所述送测输送带的送料方向排布的所述测试机构。

9.根据权利要求8所述的芯片自动测试机，其特征在于，所述取料机械手的数量为两台。