[发明专利]程序的测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202111676623.7 | 申请日： | 2021-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN116414682A | 公开（公告）日： | 2023-07-11 |
| 发明（设计）人： | 乔崇 | 申请（专利权）人： | 龙芯中科（成都）技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 莎日娜 |
| 地址： | 610212 四川省成都市中国(四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本申请提供的程序的测试方法、装置、电子设备及存储介质，应用于计算机技术领域，所述方法包括：在设置有处理器的被测设备上运行测试程序时，终端通过所述处理器的调试接口对应的目标寄存器，在不改变所述被测设备执行状态的情况下，监控所述被测设备的设备信息；所述终端在所述处理器的调试接口写入携带有异常处理地址的执行指令，以使得所述处理器执行所述执行指令；在检测到所述设备信息中存在所述异常处理地址时，从所述处理器的调试接口中获取进程信息，以使得所述处理器正常运行；对所述设备信息和所述进程信息进行测试分析。本方案尽可能减少程序的测试过程中处理器处于异常状态的时间，从而减轻了对于处理器正常运行的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 程序 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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