[发明专利]用于MCU芯片测试的硬件控制装置、方法、存储介质及设备在审
| 申请号： | 202111662008.0 | 申请日： | 2021-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN114297011A | 公开（公告）日： | 2022-04-08 |
| 发明（设计）人： | 孙林;朱勇;韩标;蒋京宏 | 申请（专利权）人： | 百瑞互联集成电路（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京国科程知识产权代理事务所(普通合伙) 11862 | 代理人： | 曹晓斐 |
| 地址： | 201306 上海市浦东新区中国(上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种用于MCU芯片测试的硬件控制装置、方法、存储介质及设备，属于硬测试件技术领域。该方法主要包括：测试控制端与端口复用硬件模块，其中，测试控制端与端口复用硬件模块连接，并根据需测试的功能发送相应的测试操作指令以控制端口复用硬件模块中相应通讯接口的开闭，端口复用硬件模块与被测MCU芯片连接，通过通讯接口对被测MCU芯片进行相应的功能测试。通过采用多路复用的原理，利用端口复用硬件模块对被测芯片进行连接，使得能够通过端口复用硬件模块对被测芯片任意通讯端口进行有效访问，并且不产生冲突，能够完全的满足全测试需求，且本方案具备更高的灵活性，无需反复的人工接线，即可实现硬件的全功能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 mcu 芯片 测试 硬件 控制 装置 方法 存储 介质 设备 | ||
【主权项】：
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