[发明专利]用于MCU芯片测试的硬件控制装置、方法、存储介质及设备

权利要求书

1.一种用于MCU芯片测试的硬件控制装置，其特征在于，包括：测试控制端与端口复用硬件模块，其中，

所述测试控制端与所述端口复用硬件模块连接，并根据需测试的功能发送相应的测试操作指令以控制所述端口复用硬件模块中相应通讯接口的开闭，所述端口复用硬件模块与被测MCU芯片连接，通过所述通讯接口对所述被测MCU芯片进行相应的功能测试。

2.根据权利要求1所述的用于MCU芯片测试的硬件控制装置，其特征在于，所述端口复用硬件模块，还包括：

多个功能模块，其分别与多个所述通讯接口连接并进行通信，根据所述测试操作指令开启相应的所述通讯接口以连接所述功能模块，以对所述被测MCU芯片的功能进行测试，其中多个所述通讯接口通过所述被测MCU芯片中的引脚与所述被测MCU芯片连接。

3.根据权利要求1所述的用于MCU芯片测试的硬件控制装置，其特征在于，所述测试控制端，包括：

控制开关，其根据需测试的功能对相应开关进行开闭，以发送相应的所述测试操作指令。

4.根据权利要求1所述的用于MCU芯片测试的硬件控制装置，其特征在于，所述测试控制端，还包括：

PC测试模块，其用于根据需测试的功能发送相应的测试指令；

通信模块，其与所述PC测试模块连接，对所述测试指令进行解析，得到所述测试操作指令。

5.根据权利要求4所述的用于MCU芯片测试的硬件控制装置，其特征在于，在所述通信模块中，所述通信模块通过所述端口复用硬件模块对所述被测MCU芯片进行访问。

6.根据权利要求4所述的用于MCU芯片测试的硬件控制装置，其特征在于，

所述通讯模块包括用于辅助测试的从属MCU芯片，其中所述从属MCU芯片与所述被测MCU芯片具有相同类型的引脚。

7.一种用于MCU芯片测试的硬件控制方法，其特征在于，包括：

根据需测试的功能，测试控制端发送相应的测试操作指令；

通过所述测试操作指令控制端口复用硬件模块中相应通讯接口的开闭，以对与所述端口复用硬件模块连接的被测MCU芯片进行相应的功能测试。

8.根据权利要求7所述的用于MCU芯片测试的硬件控制方法，其特征在于，所述通过所述测试操作指令控制端口复用硬件模块中相应通讯接口的开闭，进一步包括：

所述测试控制端中的PC测试模块根据需测试的功能发送相应的测试指令；

所述测试控制端中的通信模块对所述测试指令进行解析得到所述测试操作指令，并根据所述测试操作指令控制所述通讯接口的开闭，以与所述被测MCU芯片进行相互访问，进行对所述被测MCU芯片的相关功能的测试，其中，

所述通信模块根据所述测试操作指令开启所述端口复用硬件模块中的相应功能模块以及所述功能模块与所述被测MCU芯片之间相应的通讯接口；

所述被测MCU芯片通过所述通讯接口访问所述功能模块，并同时与所述通信模块访问，完成所述被测MCU芯片的功能测试。

9.一种计算机可读存储介质，其存储有计算机指令，其特征在于，所述计算机指令被操作以执行权利要求7-8中任一项所述的用于MCU芯片测试的硬件控制方法。

10.一种计算机设备，其特征在于，包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器进行通信连接的存储器；

其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机指令，所述至少一个处理器操作所述计算机指令以执行如权利要求7-8任一项所述的用于MCU芯片测试的硬件控制方法。