[发明专利]面板缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202111651999.2 申请日: 2021-12-31
公开(公告)号: CN114037700A 公开(公告)日: 2022-02-11
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 成都数联云算科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 王志
地址: 610000 四川省成都市*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及图像检测技术领域,揭露了一种面板缺陷检测方法,包括:接收面板短路图,根据预训练完成的缺陷检测模型,对所述面板短路图执行缺陷检测得到面板缺陷坐标,根据所述面板缺陷坐标对所述面板短路图执行裁剪,得到包括缺陷的面板缺陷图,定位所述面板缺陷图中缺陷所属的金属线,并基于数字图像处理技术寻找到所述金属线的上窄线及下窄线,判断所述上下窄线与面板缺陷图中缺陷是否存在相交,当所述上下窄线与面板缺陷图中缺陷存在相交,判断所述面板缺陷图是否存在断线,得到所述面板缺陷图的断线检测结果。本发明还提出一种面板缺陷检测装置、电子设备以及存储介质。本发明可解决短路面板缺陷检测率较低的问题。
搜索关键词: 面板 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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