[发明专利]面板缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明涉及图像检测技术领域，揭露了一种面板缺陷检测方法，包括：接收面板短路图，根据预训练完成的缺陷检测模型，对所述面板短路图执行缺陷检测得到面板缺陷坐标，根据所述面板缺陷坐标对所述面板短路图执行裁剪，得到包括缺陷的面板缺陷图，定位所述面板缺陷图中缺陷所属的金属线，并基于数字图像处理技术寻找到所述金属线的上窄线及下窄线，判断所述上下窄线与面板缺陷图中缺陷是否存在相交，当所述上下窄线与面板缺陷图中缺陷存在相交，判断所述面板缺陷图是否存在断线，得到所述面板缺陷图的断线检测结果。本发明还提出一种面板缺陷检测装置、电子设备以及存储介质。本发明可解决短路面板缺陷检测率较低的问题。

技术领域

本发明涉及图像检测技术领域，尤其涉及一种面板缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

关于电路板等工业制造过程中，因工艺波动、机台差异等因素会产生各种各样形态的电路板缺陷，其中，电路板缺陷最严重的缺陷包括短路缺陷。

目前，关于短路缺陷的监测主要使用人力识别，但人力识别会耗费过多资源，在工业2.0时代，越来越多的电路板制造商开始采用人工智能ADC（自动缺陷分类系统）来取代人力进行缺陷识别，目前人工智能ADC的检测模型在短路缺陷检测上依然无法达到较高准确率。

发明内容

本发明提供一种面板缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，其主要目的在于解决短路面板缺陷检测率较低的问题。

为实现上述目的，本发明提供的一种面板缺陷检测方法，包括：

接收面板短路图，根据预训练完成的缺陷检测模型，对所述面板短路图执行缺陷检测，得到面板缺陷坐标；

根据所述面板缺陷坐标对所述面板短路图执行裁剪，得到包括缺陷的面板缺陷图；

定位所述面板缺陷图中缺陷所属的金属线，并基于数字图像处理技术寻找到所述金属线的上窄线及下窄线；

判断所述上窄线及下窄线与面板缺陷图中缺陷是否存在相交，当所述上窄线及下窄线与面板缺陷图中缺陷存在相交，判断所述面板缺陷图是否存在断线，得到所述面板缺陷图的断线检测结果。

基于背景技术所述目前检测模型在短路缺陷检测无法达到较高准确率的问题，本发明实施例先接收面板短路图，根据预训练完成的缺陷检测模型，对所述面板短路图执行缺陷检测，得到面板缺陷坐标，因为面板缺陷坐标里可能包括断线的面板，为后续断线检测提供前置基础，然后根据所述面板缺陷坐标对所述面板短路图执行裁剪，得到包括缺陷的面板缺陷图，并进一步定位所述面板缺陷图中缺陷所属的金属线，并基于数字图像处理技术寻找、所述金属线的上窄线及下窄线，因为上窄线及下窄线原则上互相不交，若相交的话，可能会引发短路，因此所述上下窄线与面板缺陷图中缺陷存在相交，判断所述面板缺陷图是否存在断线，得到所述面板缺陷图的断线检测结果。可见本发明的面板缺陷检测包括坐标检测、窄线检测及断线检测，通过细致的多次检测，可提高断线检测准确率。因此本发明提出的基于短路面板的缺陷检测方法、装置、电子设备及计算可以解决短路面板缺陷检测率较低的问题。

可选地，所述根据所述面板缺陷坐标对所述面板短路图执行裁剪，得到面板缺陷图，包括：

根据所述面板缺陷坐标生成缺陷矩形框，并定位所述缺陷矩形框的框中心；

按照预设长度及宽度的裁剪比例，以所述框中心为裁剪中心执行裁剪，得到所述面板缺陷图。

本发明较佳实施例中，以面板缺陷坐标为中心生成缺陷矩形框，并进一步缺陷矩形框确定裁剪区域，可缩小对缺陷面板的检测面积，节约后续面板短路检测的资源消耗。

可选地，定位所述面板缺陷图中缺陷所属的金属线，并基于数字图像处理技术寻找到所述金属线的上窄线及下窄线，包括：

接收用户在所述面板缺陷图中确定的所述金属线；

对所述面板缺陷图执行二值化，得到二值缺陷图；

创建所述二值缺陷图的卷积核，利用所述卷积核对所述二值缺陷图执行开操作，得到优化缺陷图；