[发明专利]一种卫星测控测试通道完好性快速自检评估系统及方法在审

专利信息
申请号: 202111632446.2 申请日: 2021-12-29
公开(公告)号: CN114665946A 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: 于澎;胡波;唐树海;时光;常进;赵征;方凯;李乃海;闫金栋;刘一帆;宋宏江;白少华;李鹏;闫旭;刘一鸣;王倚文;薛霞;崔灿 申请(专利权)人: 北京空间飞行器总体设计部;中国人民解放军63790部队保障部
主分类号: H04B7/185 分类号: H04B7/185
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 李微微
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种卫星测控测试通道完好性快速自检评估系统及方法,采用系统内部多功能基带模块作为自检信号激励信号源,直接输出自检信号,上位机软件完成对基带模块、变频器以及开关矩阵的自动控制和评估计算的处理,同时利用特征参数模型匹配方法的测试监视软件对测控测试设备三级环路比对自检技术的关键参数进行实时判读与监视;按照本发明的测试方法完成测控通道参数监视和评估测试,实现了发射场测试和试验鉴定评估工作中的测控通道有效考核,能够自动完成全通道参数的自检和评估,保证了测控通道的完好性、正确性和安全性,证实了“一键式”测试的高效性。
搜索关键词: 一种 卫星 测控 测试 通道 完好 快速 自检 评估 系统 方法
【主权项】:
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