[发明专利]一种卫星测控测试通道完好性快速自检评估系统及方法在审
申请号: | 202111632446.2 | 申请日: | 2021-12-29 |
公开(公告)号: | CN114665946A | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
发明(设计)人: | 于澎;胡波;唐树海;时光;常进;赵征;方凯;李乃海;闫金栋;刘一帆;宋宏江;白少华;李鹏;闫旭;刘一鸣;王倚文;薛霞;崔灿 | 申请(专利权)人: | 北京空间飞行器总体设计部;中国人民解放军63790部队保障部 |
主分类号: | H04B7/185 | 分类号: | H04B7/185 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 李微微 |
地址: | 100094 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 卫星 测控 测试 通道 完好 快速 自检 评估 系统 方法 | ||
1.一种卫星测控测试通道完好性快速自检评估系统,其特征在于,包括调制模块、解调模块、上变频器、下变频器、第一衰减器、信号源、第二衰减器、第一测控开关、第二测控开关、第一微波开关、第二微波开关、功率传感器、频谱分析仪以及上位机;
调制模块通过第一测控开关接上变频器;上变频器通过第一微波开关接衰减器;信号源接第一衰减器,上行电缆直接与下行电缆直接相连,第二衰减器通过第二微波开关接下变频器,下变频器通过第二测控开关接解调模块;解调模块、第一测控开关、第二测控开关及解调模块组成多功能测控基带单元;第一微波开关、第二微波开关、信号源、第一衰减器和第二衰减器组成多功能开关矩阵单元。功率传感器与频谱分析仪均与第二衰减器相连;
多功能测控基带单元、上变频器、多功能开关矩阵单元、功率传感器、频谱分析仪以及下变频器均与上位机相连;
所述上位机用于配置调制模块、解调模块、上变频器、下变频器、第一衰减器、信号源以及第二衰减器的参数;同时,控制解调模块发送测量中频信号,控制第一测控开关、第二测控开关、第一微波开关和第二微波开关;接收功率传感器和频谱分析仪的信号;同时,对上、下变频器参数、调制模块的调制功能参数,解调模块的解调功能参数以及测距测速功能参数进行监视。
2.一种基于权利要求1所述的卫星测控测试通道完好性快速自检评估系统的评估方法,其特征在于,包括:
设置多功能测控基带单元内部的第一测控开关和第二测控开关将调制模块和解调模块直接相连,形成自闭环状态;设置调制模块发送出测量中频信号;解调模块通过内部自闭环回路接收中频信号,上位机自动记录调制功能参数、解调功能参数以及测距测速功能参数检查,显示一级环路状态评估结果,完成一级环路健康状态检查。
3.如权利要求2所述的卫星测控测试通道完好性快速自检评估方法,其特征在于,包括:设置第一测控开关和第二测控开关为测试状态,即第一测控开关将调制模块接到上变频器,测试开关2将解调模块接到下变频器;设置第一微波开关和第二微波开关将上变频器和下变频器直接相连;设置调制模块发送出测量中频信号,经过上变频后通过第一微波开关和第二微波开关形成的自闭环回路将信号直接输出至下变频,然后传送至解调模块;上位机记录调制功能参数、解调功能参数、上、下变频器参数以及开关矩阵功能参数检查,自动装订测控分系统地面测试设备的零值,完成测控分系统测试设备端的二级环路健康状态检查。
4.如权利要求2所述的卫星测控测试通道完好性快速自检评估方法,其特征在于,包括:上行电缆与下行电缆直接相连,连成测试射频电缆,设置第一测控开关将调制模块接到上变频器,第二测控开关将解调模块接到下变频器;设置第一微波开关将上变频器接至第一衰减器,第二微波开关将下变频器接至第二衰减器;设置调制模块发出测量中频信号,经过上变频后再经第一衰减器、经测试射频电缆返回至第二衰减器,再经下变频器回到解调模块;上位机进行遥控调制功能检查、遥测解调功能检查以及测距测速功能检查,装订测控分系统地面测试系统的零值,完成测控分系统测试设备端的三级环路健康状态检查。
5.如权利要求2所述的卫星测控测试通道完好性快速自检评估方法,其特征在于,包括:控制信号源模块发送某一特定频点的单载波信号,经第一衰减器输出后经过地面测试射频电缆返回至第二衰减器,功率传感器测量第二衰减器输出信号的功率,上位机软件自动读取功率计示数,显示并记录测试射频电缆插损值;频谱分析仪用于监视第二衰减器输出信号的状态给上位机。
6.如权利要求2所述的卫星测控测试通道完好性快速自检评估方法,其特征在于,包括:所述上位机监控的参数,与存储的参数的正常值范围与跳变值范围进行比对,产生告警信号并记录。
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