[发明专利]渐变中性密度片针孔测试系统在审
| 申请号： | 202111630222.8 | 申请日： | 2021-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN114324160A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 金秀;任少鹏;张勇喜;刘佩闻;朱磊;郭俊峰;阎岩 | 申请（专利权）人： | 沈阳仪表科学研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/894 |
| 代理公司： | 沈阳亚泰专利商标代理有限公司 21107 | 代理人： | 郭元艺 |
| 地址： | 110043 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明属光学元件表面质量的检测领域，尤其涉及渐变中性密度片针孔测试系统，包括整体外框架（1）、激光光源（2）、上光学调整架（301）、下光学调整架（302）、承载平台（4）、运动机构（5）、承载夹具（6）、光功率计（8）及计算机（9）；运动机构（5）包括旋转电机（501）及X轴电动直线位移台（502）；旋转电机（501）固定设于X轴电动直线位移台（502）之上，其输出轴与承载夹具（6）垂直固定相接；X轴电动直线位移台（502）固定设于承载平台（4）之上，其推进端与Y轴电动直线位移台（503）固定相接。本发明检测一致性强，测试效率高，检测精度理想。 | ||
| 搜索关键词： | 渐变 中性 密度 针孔 测试 系统 | ||
【主权项】：
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