[发明专利]一种微波无损检测的方法、装置、系统、设备及介质在审
| 申请号： | 202111629267.3 | 申请日： | 2021-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN114136998A | 公开（公告）日： | 2022-03-04 |
| 发明（设计）人： | 王世宏;王一帆;朱丽丽;车飞 | 申请（专利权）人： | 北京西管安通检测技术有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N22/02 | 分类号： | G01N22/02 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 杨奇松 |
| 地址： | 100000 北京市朝阳区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供一种微波无损检测的方法、装置、系统、设备及介质，该方法包括：控制无损检测设备向待检测材料的检测区域发射微波信号，并且采集所述检测区域的反射微波信号，其中，所述检测区域为所述待检测材料的指定部位所在的区域；通过所述反射微波信号，识别所述检测区域是否存在缺陷。本申请一些实施例能够通过无人机对待检测材料的无损检测，实现无需拆卸待检测材料的部件即可进行无损检测，从而节省了大量的人力资源，延长了待检测材料的使用寿命周期。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微波 无损 检测 方法 装置 系统 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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