[发明专利]一种级联型GaN基功率器件的封装结构及封装方法在审

专利信息
申请号: 202111618972.3 申请日: 2021-12-27
公开(公告)号: CN114284231A 公开(公告)日: 2022-04-05
发明(设计)人: 吴毅锋;王美玉;曾凡明;李生东 申请(专利权)人: 珠海镓未来科技有限公司
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495;H01L25/18;H01L21/48;H01L21/60
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 潘登
地址: 519000 广东省珠海市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例公开了一种级联型GaN基功率器件的封装结构及封装方法。其中,该封装结构中,HEMT芯片、MOSFET芯片、框架基岛和导电连接结构封装于塑封材料中;框架基岛的第一侧表面设置有凹槽,导电连接结构固定于凹槽内且与框架基岛绝缘;MOSFET芯片倒置于框架基岛的第一侧表面,MOSFET芯片的栅极与导电连接结构电连接,源极与第一侧表面的非凹槽所在区电连接;HEMT芯片正置于框架基岛的第一侧表面,源极与MOSFET芯片的漏极通过引线电连接;栅极通过引线与框架基岛电连接。本发明实施例提高了芯片散热性能和可靠性,同时,降低了寄生感抗,提高了开关性能和能源效率。
搜索关键词: 一种 级联 gan 功率 器件 封装 结构 方法
【主权项】:
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