[发明专利]一种存储芯片自动化测试系统及分选装置

摘要

本发明公开了一种存储芯片自动化测试系统及分选装置,包含芯片测试装置，用于测试存储芯片；动作机构，用于执行存储芯片自动化测试过程中的动作指令；工控模块，连接所述的芯片测试装置与所述的动作机构，用于控制所述芯片测试装置对存储芯片开展测试活动，以及控制所述的动作机构执行动作指令；智能控制端，连接所述工控模块，用于给所述的工控模块下达测试指令和/或动作指令，本发明不但可以实现对存储芯片的全自动化测试还可以实现对存储芯片测试结果的自动化分选,而且本发明中的上料、测试、分选、下料，每个环节都是自动化操作，所以本发明不但大大提高了存储芯片的测试效率而且还大大节约了人工成本。