[发明专利]一种存储芯片自动化测试系统及分选装置

权利要求书

1.一种存储芯片自动化测试系统,其特征在于,包含：

芯片测试装置，用于置放并固定存储芯片以及对存储芯片进行测试；

动作机构，用于执行存储芯片自动化测试的动作指令；

工控模块，连接所述的芯片测试装置与所述的动作机构，用于控制所述的芯片测试装置对存储芯片开展测试活动，以及控制所述的动作机构执行动作指令；

智能控制端，连接所述的工控模块，用于给所述的工控模块下达测试指令和/或动作指令，从而实现所述存储芯片自动化测试系统进行自动化测试。

2.如权利要求1所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于,所述的芯片测试装置包含用于测试存储芯片的测试板以及用于定位置放存储芯片的存储芯片测试台，所述的测试板与所述的存储芯片测试台连接并进行数据通信；

所述的存储芯片测试台包含第一气缸，所述的第一气缸用于驱动所述存储芯片测试台的开合以便装载存储芯片，以及压紧装载后的存储芯片；所述的芯片测试装置的数量至少为1个。

3.如权利要求2所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于,所述的存储芯片测试台上设置有多个容置存储芯片的测试位，每个所述的测试位容置一个存储芯片；

所述的存储芯片测试台包含第一气缸，所述的第一气缸用于驱动所述存储芯片测试台的开合以便装载存储芯片，以及压紧所述测试位上装载的存储芯片。

4.如权利要求1所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于,所述的动作机构包含：

第一自动上下料机构，用于自动搬运料盘至目标位置，所述的料盘用于置放存储芯片；

第一抓取机构，用于抓取存储芯片，以及移动存储芯片至目标位置；

所述的第一自动上下料机构与第一抓取机构分别连接所述的工控模块。

5.如权利要求4所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于,所述的第一自动上下料机构包含第一驱动电机、被所述第一驱动电机驱动的第一丝杆滑轨、以及与所述第一丝杆滑轨螺纹连接的第一托盘，所述的第一托盘之上置放所述的料盘。

6.如权利要求1所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于,所述的动作机构还包含第二自动上下料机构,用于置放空料盘以及自动搬运空料盘至目标位置;

所述的第二自动上下料机构包含第二驱动电机、被所述第二驱动电机驱动的第二丝杆滑轨、以及与所述第二丝杆滑轨螺纹连接的第二托盘，所述的第二托盘之上置放空料盘。

7.如权利要求4所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于,所述的第一抓取机构包含第三驱动电机、第三丝杆滑轨与第一机械手；

所述的第三驱动电机由X轴驱动电机、Y轴驱动电机与Z轴驱动电机组成；

所述的第三丝杆滑轨由被所述X轴驱动电机驱动的X轴丝杆滑轨、被所述Y轴驱动电机驱动的Y轴丝杆滑轨与被所述Z轴驱动电机驱动的Z轴丝杆滑轨组成；

所述的Y轴丝杆滑轨设置在所述的X轴丝杆滑轨上，在X轴方向往复运动，所述的Z轴丝杆滑轨设置所述的Y轴丝杆滑轨上，在Y轴方向往复运动；或所述的X轴丝杆滑轨设置在所述的Y轴丝杆滑轨上，在Y轴方向往复运动，所述的Z轴丝杆滑轨设置所述的X轴丝杆滑轨上，在X轴方向往复运动；

所述的X轴丝杆滑轨与Y轴丝杆滑轨水平设置，所述的Z轴丝杆滑轨竖直设置，所述的第一机械手设置在所述的Z轴丝杆滑轨上。

8.如权利要求7所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于,所述的第一机械手包含变距滑台、以及设置在所述变距滑台上的吸盘，所述的变距滑台与吸盘连接所述的工控模块；

所述的吸盘数量至少为两个，所述的吸盘之间的间距以及水平高度可调节。

9.如权利要求1-8任一所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于,所述的工控模块至少包含电机驱动器与电磁阀；

所述的电机驱动器连接所述的第一驱动电机、第二驱动电机与第三驱动电机；所述的第一驱动电机、第二驱动电机与第三驱动电机均为伺服电机；所述的电磁阀连接所述的第一气缸。