[发明专利]一种后段质检MAP图与前段客供MAP图的比对方法在审
| 申请号： | 202111585527.1 | 申请日： | 2021-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN114297153A | 公开（公告）日： | 2022-04-08 |
| 发明（设计）人： | 朱思琴;陈聪;李宗仁 | 申请（专利权）人： | 上海利扬创芯片测试有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/16 | 分类号： | G06F16/16;G06F16/172;G06F16/13 |
| 代理公司： | 北京前审知识产权代理有限公司 11760 | 代理人： | 张波涛;尹秀峰 |
| 地址： | 201800 上海市嘉*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明揭示了后段质检MAP图与前段客供MAP图的比对方法，所述方法包括如下步骤：S100、建立流程卡号与后段质检MAP图所对应文件的映射；S200、提供前段客供MAP图所对应文件的存储路径；S300、根据所述映射和所述存储路径，对质检MAP图所对应文件和前段客供MAP图所对应文件进行比对，比对后，生成比对MAP图文件。本发明摒弃了现有技术中人工比对文件的方法，相比现有技术，本发明更加快捷方便，且不容易出错，方便作业人员快速并精确的进行晶圆测试质检。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 后段 质检 map 前段 方法 | ||
【主权项】：
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