[发明专利]氧化铟锡垂直型环栅场效应晶体管及其制备方法在审
申请号: | 202111571065.8 | 申请日: | 2021-12-21 |
公开(公告)号: | CN114242780A | 公开(公告)日: | 2022-03-25 |
发明(设计)人: | 吴燕庆;胡倩澜;熊雄;童安宇 | 申请(专利权)人: | 北京超弦存储器研究院;北京大学 |
主分类号: | H01L29/10 | 分类号: | H01L29/10;H01L29/24;H01L29/423;H01L29/78;H01L21/34 |
代理公司: | 北京万象新悦知识产权代理有限公司 11360 | 代理人: | 李稚婷 |
地址: | 100176 北京市大兴区北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种氧化铟锡垂直型环栅场效应晶体管及其制备方法。所述场效应晶体管为垂直型环栅结构,包括绝缘衬底,在绝缘衬底上由下至上依次层叠漏电极、大高宽比的氧化铟锡沟道层和源电极,其中氧化铟锡沟道层被高κ栅介质层和栅电极环绕包覆,形成环栅结构。氧化铟锡沟道由环栅包围,栅控能力增强,能更好地抑制短沟道效应,进一步推进工艺节点,并且相比于平面型环栅在栅长及源漏接触面积上的限制更小,其整体工艺热预算在300℃以内,可进行三维堆叠,因此有效提升了集成密度。 | ||
搜索关键词: | 氧化 垂直 型环栅 场效应 晶体管 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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