[发明专利]一种基于多级张量先验约束的高光谱异常检测方法在审
| 申请号： | 202111525268.3 | 申请日： | 2021-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN114331976A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 李丹;王禹健;李小军;吴汉杰 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学;西安空间无线电技术研究所 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 王安琪 |
| 地址： | 210016 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种基于多级张量先验约束的高光谱异常检测方法，首先，使用张量分解将原始高光谱图像分割为背景张量和异常目标张量；然后，分别将背景张量的低秩先验和异常目标张量的稀疏先验建模为截断核范数TNN正则项和l |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 多级 张量 先验 约束 光谱 异常 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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