[发明专利]一种集成电路检测平台及其检测方法在审
| 申请号： | 202111517543.7 | 申请日： | 2021-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN114113986A | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 孔至颢 | 申请（专利权）人： | 孔至颢 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 223800 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及集成电路检测技术领域，且公开了一种集成电路检测平台及其检测方法，包括检测台，所述检测台的底部固定连接有四个支撑柱，所述检测台顶部固定连接有安装架，所述安装架正面设置有安装框，所述安装框内安装有显示屏，所述安装架的底部固定连接有联动式检测机构，所述检测台的顶部的前侧等距离固定连接有接通调节系统。本发明解决当集成电路板插接口通电时，接触块能够快速的实现对其检测操作，检测后的数据在显示屏内显示，可以快速的检测，解决现有的检测方式效率低下，人工操作连续性差的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 检测 平台 及其 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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