[发明专利]一种集成电路检测平台及其检测方法

权利要求书

1.一种集成电路检测平台，其特征在于，包括检测台（1），所述检测台（1）的底部固定连接有四个支撑柱（2），所述检测台（1）顶部固定连接有安装架（3），所述安装架（3）正面设置有安装框（4），所述安装框（4）内安装有显示屏（5），所述安装架（3）的底部固定连接有联动式检测机构，所述检测台（1）的顶部的前侧等距离固定连接有接通调节系统（13），所述接通调节系统（13）位于所述联动式检测机构的正下方，所述接通调节系统（13）的左右两侧均弹性设置有限制条（14），所述限制条（14）的后端设置有回位套（15），所述回位套（15）上设置有弹性脚（16），所述弹性脚（16）内侧设置有弧形面（17），所述限制条（14）内侧固定连接有第一限位条（24）和第二限位条（25），所述第一限位条（24）和所述第二限位条（25）的相对一侧均开设有限位槽（26），两个所述限位槽（26）内滑动连接有滑动杆（27），所述滑动杆（27）的一侧固定连接有档条（28），所述第一限位条（24）和所述第二限位条（25）相对一侧的后侧通过传送轴（29）固定连接，所述档条（28）上固定连接有传送带（30），所述传送带（30）搭接在所述传送轴（29）上，所述传送带（30）的一端贯穿所述限制条（14）内腔，所述限制条（14）顶部的前侧开设有方形安装槽（33），所述方形安装槽（33）内方形块（31），所述方形块（31）上设置有多个线槽（32），所述拉绳（58）的一端贯穿所述线槽（32）并与所述传送带（30）的一端固定连接，所述接通调节系统（13）上设置有接通插头。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路检测平台，其特征在于：所述联动式检测机构包括转动轴套（67），所述转动轴套（67）内套设有滚珠套（68），所述滚珠套（68）上套设有回收线轮（69），所述回收线轮（69）的表面开设有回收槽（70），所述滚珠套（68）内套设有丝杆（71），所述安装架（3）的底部固定连接有升降支撑架（6），所述升降支撑架（6）上套设有两个滑套（7），所述滑套（7）内套设有滑杆（8），所述滑杆（8）的底端固定连接有固定杆（9），所述滑杆（8）的顶端与所述丝杆（71）的底端固定连接，所述滑杆（8）的底端固定连接有检测板（10），所述检测板（10）的底端固定连接有检测头（11），所述检测头（11）的底端固定连接有接触块（12）。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路检测平台，其特征在于：所述接通调节系统（13）的左右两端均设置有活动槽（39），所述活动槽（39）内腔上方套设有密封板（37），所述活动槽（39）内壁底部固定连接有固定条（40），所述活动槽（39）内腔靠近所述限制条（14）处设置有挡块（38），所述挡块（38）与所述活动槽（39）内壁前后两侧预留有空间，所述挡块（38）的前后两侧均贯穿设置有连接板（44），所述连接板（44）的一端与所述限制条（14）固定连接，所述连接板（44）的另一端固定连接有限位竖板（41），所述限位竖板（41）的一侧搭接在所述固定条（40）的一侧，所述固定条（40）的外侧固定连接有接触板（43），所述接触板（43）的一侧搭接在所述挡块（38）的一侧，所述固定条（40）的前后均开设有安装横槽（42），所述限位竖板（41）的一端套设在安装横槽（42）内，所述限位竖板（41）的一侧通过压缩弹簧（45）与所述接触板（43）的一侧弹性连接。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路检测平台，其特征在于：所述回位套（15）包括弹性套（18），所述弹性套（18）的上下两侧均贯穿设置有回位槽（19），所述回位槽（19）内套设有回位杆（22），所述回位杆（22）的外端固定连接有固定块（23），所述弹性脚（16）固定连接在两个所述固定块（23）的表面，所述弹性套（18）固定连接在所述限制条（14）的一侧，两个所述回位杆（22）的相对一侧通过连接杆（20）固定连接，所述连接杆（20）上套设有扭簧（21），所述扭簧（21）的一端固定连接在所述连接杆（20）的一侧，所述扭簧（21）的另一端固定连接在所述弹性套（18）的内壁。