[发明专利]一种低损耗材料介电参数测试方法、系统

摘要

本发明实施例提供一种低损耗材料介电参数测试方法、系统。包括：测试谐振腔空载时的空载谐振频率f0和空载品质因数Q0；将待测介电参数的材料对应的样品放置于谐振腔中，测量放置样品后的样品谐振频率f和样品品质因数Q；建立谐振腔与样品的用于确定谐振腔的电场分布的数值仿真模型；针对任何形状的谐振腔，利用数值仿真模型确定谐振腔的电场分布，且计算该电场分布下的体积分对应的系数Csimu；以及基于空载谐振频率f0、空载品质因数Q0、样品谐振频率f和样品品质因数Q以及系数Csimu计算样品的材料对应的介电参数。本发明不依赖谐振腔中场分布的解析公式，可以更加灵活的选择谐振腔的形状。