[发明专利]电子部件测试用分选机在审
| 申请号： | 202111481976.1 | 申请日： | 2019-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN114522907A | 公开（公告）日： | 2022-05-24 |
| 发明（设计）人： | 李相勋;金平锡 | 申请（专利权）人： | 泰克元有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 李盛泉;孙昌浩 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明设计一种电子部件测试用分选机。本发明的一种电子部件测试用分选机，其特征在于，包括：防振用框架，与底座相隔而配备，并相对于底座进行相对游动，以抑制底座的振动对电子部件和测试插座之间的电连接产生的影响；振动吸收体，夹设于防振用框架与底座之间，从而最小化底座的振动传递至防振用框架；连接器，设置于防振用框架，并且使电子部件和测试插座电连接；收给器，将需测试的电子部件供应至测试插座，或回收测试完毕的电子部件；及控制器，控制连接器及收给器，其中，测试插座设置于防振用框架。根据本发明可最小化振动的传递，因此可维持电子部件和测试仪之间的电连接及其连接的精密性，最终可提升对测试结果的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 部件 测试 分选 | ||
【主权项】：
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