[发明专利]电子部件测试用分选机

说明书

本发明设计一种电子部件测试用分选机。本发明的一种电子部件测试用分选机，其特征在于，包括：防振用框架，与底座相隔而配备，并相对于底座进行相对游动，以抑制底座的振动对电子部件和测试插座之间的电连接产生的影响；振动吸收体，夹设于防振用框架与底座之间，从而最小化底座的振动传递至防振用框架；连接器，设置于防振用框架，并且使电子部件和测试插座电连接；收给器，将需测试的电子部件供应至测试插座，或回收测试完毕的电子部件；及控制器，控制连接器及收给器，其中，测试插座设置于防振用框架。根据本发明可最小化振动的传递，因此可维持电子部件和测试仪之间的电连接及其连接的精密性，最终可提升对测试结果的可靠性。

本申请是申请日为2019年04月12日、申请号为201910292031.1、发明名 称为“电子部件测试用分选机”的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种电子部件测试用分选机。

背景技术

生产的电子部件由测试仪测试后将分为良品和不良品，并且只出库良品。

测试仪和电子部件的电连接借由分选机实现，且分选机根据将要被测试 的电子部件的种类而制作成多种形态。

通常，在测试电子部件时，最为重要的是电子部件和测试仪之间电连接 的精密性和连接状态的持续性。即，分选机中电子部件和测试仪的精密的连 接和维持其精密的连接状态较为重要。

然而，分选机在运行过程中由于多样的内装机器的运行冲击而发生振动， 此种振动对电子部件和测试仪的精密的连接或其连接状态造成影响。例如， 由于振动，电子部件的端子和测试仪上的测试插座的端子可能无法相互精密 地接触。

并且，电子部件和测试插座接触后，振动仍有可能对电子部件和测试插 座之间的连接造成不良影响，从而电子部件和测试插座之间的电连接间歇性 地变得不稳定，从而导致得到的测试结果不正确。即，需要在电子部件的端 子和测试插座的端子之间的接触面积和接触力维持在一定的状态的情况下进 行测试，但由于振动可能会导致间歇性地发生变动的状况。

一般的分选机的振动在移动电子部件、根据测试结果分类电子部件的等 过程中，由各内装机器的并发运行而发生。尤其，发生在接近于电子部件和 测试仪之间的电连接部位的位置的振动可能更危险。

尤其，如本申请人的在先申请号10-2016-0007710(以下统称“在先申请”)， 多个测试站以复层型并复数列相邻的分选机中，由于将电子部件和测试机以 电气方式连接的连接器的独立的运行而发生的振动可能会对相邻的测试站造 成较大的影响。

另外，信息产业的不断发展一直要求开发可感测振动、压力及方位等的 电子部件，也达到了开发顺应于此的特殊电子部件。然而，现有的分选机并 未考虑到上文中所提及的振动，因此可预测到的是利用现有的分选机测试所 提及的特殊电子部件有可能导致电子部件的损伤或测试结果的不正确。

发明内容

本发明的目的在于提供一种如下的技术：能够抑制或衰减由电子部件测 试用分选机中的各种内装机器的运行而产生的振动，或者最小化其传递，从 而将电子部件和测试插座之间的电连接稳定化。

根据本发明的一种电子部件测试用分选机，其特征在于，包括：防振用 框架，与底座相隔而配备，并相对于所述底座进行相对游动，以抑制所述底 座的振动对电子部件和测试插座之间的电连接产生的影响；振动吸收体，夹 设于所述防振用框架与所述底座之间，从而最小化所述底座的振动传递至所 述防振用框架；连接器，设置于所述防振用框架，并且使所述电子部件和所 述测试插座电连接；收给器，将需测试的所述电子部件供应至所述测试插座， 或回收测试完毕的所述电子部件；及控制器，控制所述连接器及收给器，其 中，所述测试插座设置于所述防振用框架。

所述的电子部件测试用分选机还包括固定所述防振用框架的固定器，其 中，所述控制器控制所述固定器，从而固定所述防振用框架或解除固定状态。