[发明专利]一种老化追踪电路、电子器件及电子设备在审

专利信息
申请号: 202111451676.9 申请日: 2021-12-01
公开(公告)号: CN114142846A 公开(公告)日: 2022-03-04
发明(设计)人: 钱雅倩;黄瑞锋;魏依苒 申请(专利权)人: 海光信息技术股份有限公司
主分类号: H03K19/003 分类号: H03K19/003;G01R31/26;G01R31/27
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 蒋姗
地址: 300450 天津市滨海新区天津华苑*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 本申请提供一种老化追踪电路、电子器件及电子设备,电路包括:锁存器和数据下拉模块,锁存器中的第一PMOS晶体管的尺寸与原始电路中待追踪PMOS晶体管的尺寸一致,且大于锁存器中的第二PMOS晶体管的尺寸,且第一PMOS晶体管老化后的驱动能力小于第二PMOS晶体管的驱动能力;数据下拉模块,第一端与所述锁存器的两个数据存储点连接,第二端接地,第三端用于接入控制信号,在原始电路上电时,第一端与第二端导通,以将两个数据存储点中的数据清零,并在两个数据存储点中的数据清零后,第一端与第二端断开。该电路通过第一PMOS晶体管可以模拟待追踪PMOS晶体管的老化情况,实现对于待追踪PMOS晶体管的老化追踪。
搜索关键词: 一种 老化 追踪 电路 电子器件 电子设备
【主权项】:
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