[发明专利]一种老化测试板、老化测试设备在审
| 申请号： | 202111445768.6 | 申请日： | 2021-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN113866612A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 李鹏飞;李建强;李彦青;杨燕 | 申请（专利权）人： | 北京京瀚禹电子工程技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 11471 | 代理人： | 周亮 |
| 地址： | 102200 北京市昌平区沙河*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种老化测试板、老化测试设备，属于芯片测试生产技术领域，本申请的老化测试板包括，老化测试基板，以及设置在所述老化测试基板上的测试座模块、控制电路模块、选择电路模块、电源电路模块；所述控制电路模块，用于根据接收到的上位机指令向所述选择电路模块发出配置信号；所述选择电路模块，用于根据所述配置信号对所述测试座模块的各个管脚进行配置，通过将管脚配置成不同的管脚状态来适配不同的被测器件；所述测试座模块用于放置被测器件；所述电源电路模块用于为所述控制电路模块和选择电路模块提供工作电源。本申请有利于提高测试效率，总体上降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 老化 测试 设备 | ||
【主权项】：
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