[发明专利]一种FRD结构及其制作方法和应用有效

专利信息
申请号: 202111444615.X 申请日: 2021-11-30
公开(公告)号: CN114203829B 公开(公告)日: 2023-02-28
发明(设计)人: 李学会;喻双柏;和巍巍;汪之涵;傅俊寅;魏炜 申请(专利权)人: 深圳基本半导体有限公司
主分类号: H01L29/868 分类号: H01L29/868;H01L29/06;H01L21/329
代理公司: 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 代理人: 郑姣
地址: 518000 广东省深圳市坪山区坑梓街道办*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请提供了一种FRD结构及其制作方法和应用。其中,FRD结构包括衬底和覆于衬底的终端环形场氧化层,终端环形场氧化层沿衬底的周缘环形设置,终端环形场氧化层围成对应于衬底的中间位置的源区;FRD结构还包括P‑阱区和多个P+阱区,P‑阱区覆于衬底且位于源区,多个P+阱区均覆于P‑阱区且均嵌入P‑阱区,多个P+阱区相互间隔,以形成至少一个泄放通道,泄放通道相对的两端均与终端环形场氧化层衔接;泄放通道用于引导FRD结构的雪崩电流至源区的中间位置。本申请中,雪崩电流主要通过泄放通道流向源区的中间位置,使得雪崩电流不会集中在芯片的边沿,从而增大了芯片的散热面积,不易形成热量积聚和局部热点,进而能够有效地提升FRD结构的雪崩耐量和可靠性。
搜索关键词: 一种 frd 结构 及其 制作方法 应用
【主权项】:
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