[发明专利]一种适用于量子测控系统的电子器件低温建模的方法及装置在审
| 申请号： | 202111438950.9 | 申请日： | 2021-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN114266356A | 公开（公告）日： | 2022-04-01 |
| 发明（设计）人： | 关盈 | 申请（专利权）人： | 浪潮集团有限公司 |
| 主分类号： | G06N10/20 | 分类号： | G06N10/20 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人： | 姜鹏 |
| 地址： | 250100 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种适用于量子测控系统的电子器件低温建模的方法及装置，属于量子测控技术领域。本发明的适用于量子测控系统的电子器件低温建模的方法，选取晶体管在低温环境下进行测量，在测试数据的基础上建立电子器件的低温模型。该发明的适用于量子测控系统的电子器件低温建模的方法能够满足低温电路仿真需求，节约研发时间和成本，具有很好的推广应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 量子 测控 系统 电子器件 低温 建模 方法 装置 | ||
【主权项】：
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