[发明专利]验证方法、装置及电子设备在审
| 申请号： | 202111415961.5 | 申请日： | 2021-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN114356680A | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 索健;王正 | 申请（专利权）人： | 北京爱芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京太合九思知识产权代理有限公司 11610 | 代理人： | 刘戈;曹威 |
| 地址： | 100080 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供一种验证方法、装置及电子设备。其中，该方法应用于系统级芯片，该方法包括执行待验证模块对应的测试用例，以对待验证模块进行验证，其中，测试用例基于第一程序语言编写而成；利用目标程序语言将验证过程中产生的基于第一程序语言的第一传递信息，编码为第一转换信息；将第一转换信息写入预设寄存器，以供验证平台从预设寄存器获取第一转换信息，并基于第一转换信息，生成基于第二程序语言的第二传递信息；从预设寄存器获取第二转换信息；结合第二转换信息对待验证模块进行下一步验证。本申请实施例提供的技术方案可以通过对第一传递信息和第二传递信息进行程序语言的同步，保证系统级芯片与验证平台的交互，提高芯片验证效率。 | ||
| 搜索关键词： | 验证 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
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