[发明专利]验证方法、装置及电子设备

说明书

本申请实施例提供一种验证方法、装置及电子设备。其中，该方法应用于系统级芯片，该方法包括执行待验证模块对应的测试用例，以对待验证模块进行验证，其中，测试用例基于第一程序语言编写而成；利用目标程序语言将验证过程中产生的基于第一程序语言的第一传递信息，编码为第一转换信息；将第一转换信息写入预设寄存器，以供验证平台从预设寄存器获取第一转换信息，并基于第一转换信息，生成基于第二程序语言的第二传递信息；从预设寄存器获取第二转换信息；结合第二转换信息对待验证模块进行下一步验证。本申请实施例提供的技术方案可以通过对第一传递信息和第二传递信息进行程序语言的同步，保证系统级芯片与验证平台的交互，提高芯片验证效率。

技术领域

本申请实施例涉及芯片验证技术领域，尤其涉及一种验证方法、装置及电子设备。

背景技术

目前，系统级芯片(System on Chip，简称SOC)的应用越来越广泛，且SOC芯片的流片一般比较昂贵，因此，在SOC进行流片之前，需要对SOC芯片进行仿真验证来确定SOC芯片的正常运行，而目前一班利用验证平台对SOC芯片进行仿真验证。

有些验证平台基于SV(SystemVerilog)语言对SOC芯片进行验证仿真，而有SOC芯片中某些待验证模块的测试用例采用C代码编写，测试用例包含用于驱动待验证模块进行仿真验证的指令，SOC芯片中的中央处理器(central processing unit，简称CPU)用于执行C代码，因此，CPU可以基于测试用例中的指令驱动SOC芯片与验证平台进行多次交互完成对SOC芯片的验证仿真。

但C代码与SV代码不一致，导致SOC芯片与验证平台不能进行交互，造成仿真验证不能执行。

目前解决的方式是管理人员手动进行代码的重新编写，这样导致验证效率低下。

发明内容

本申请实施例提供一种验证方法、装置及电子设备，用以解决现有技术中验证效率低下的问题。

第一方面，本申请实施例中提供了一种验证方法，应用于系统级芯片，所述方法包括：

执行待验证模块对应的测试用例，以对所述待验证模块进行验证，其中，所述测试用例基于第一程序语言编写而成；

利用目标程序语言，将验证过程中产生的基于所述第一程序语言的第一传递信息，编码为第一转换信息；

将所述第一转换信息写入预设寄存器，以供验证平台从所述预设寄存器获取所述第一转换信息，并基于所述第一转换信息，生成基于第二程序语言的第二传递信息；

从所述预设寄存器获取第二转换信息，所述第二转换信息为所述验证平台利用所述目标程序语言对所述第二传递信息进行编码生成的；

结合所述第二转换信息对所述待验证模块进行下一步验证。

第二方面，本申请实施例中提供了一种验证方法，应用于验证平台，所述方法包括：基于针对待验证模块的验证指令，将验证过程中产生的基于所述第一程序语言的第一传递信息，编码为第一转换信息，所述测试用例基于第一代码编写而成；

将所述第一转换信息写入预设寄存器以供系统级芯片获取所述第一转换信息，并基于所述第一转换信息，生成基于第二程序语言的第二传递信息；

在所述预设寄存器获取第二转换信息，所述述第二转换信息为所述系统级芯片利用所述目标程序语言对所述第二传递信息进行编码生成的；

结合所述第二转换信息对所述待验证模块进行下一步验证。

第三方面，本申请实施例提供了一种验证装置，应用于系统级芯片，包括：

执行模块，用于执行待验证模块对应的测试用例，以对所述待验证模块进行验证，其中，所述测试用例基于第一程序语言编写而成；