[发明专利]基于小波变换的mura缺陷检测方法和系统有效
| 申请号： | 202111387780.6 | 申请日： | 2021-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN113822884B | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 左右祥;杨义禄;关玉萍;查世华;李波;曾磊 | 申请（专利权）人： | 中导光电设备股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 广州维智林专利代理事务所(普通合伙) 44448 | 代理人： | 赵晓慧 |
| 地址： | 526238 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于小波变换的mura缺陷检测方法，包括以下步骤：将TDI相机采集到的TFT LCD原图像进行小波变换，得到被检图像的小波域图；将小波域图的最低尺度近似分量的所有值置为0并进行小波反变换，得到时域图像；将原图像与反变换后的时域图像进行叠加再进行归一化得到处理后的图像；对归一化处理后的图像分别在X方向和Y方向上求取一阶偏导数，并根据一阶偏导数计算出每个像素点的梯度方向；对归一化处理后的图像利用拉普拉斯算子求取二阶偏导数，沿垂直于像素点的梯度方向的局部区域求取二阶偏导数的局部极大值，并根据局部极大值确定mura位置。本发明精度高，速度快，鲁棒性好。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 变换 mura 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
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