[发明专利]一种蚀刻液和使用了所述蚀刻液的阵列基板的制作方法在审

专利信息
申请号: 202111385709.4 申请日: 2021-11-22
公开(公告)号: CN114086180A 公开(公告)日: 2022-02-25
发明(设计)人: 何毅烽 申请(专利权)人: TCL华星光电技术有限公司
主分类号: C23F1/18 分类号: C23F1/18;C23F1/26;C23F1/24;C09K13/08;C09K13/10;H01L21/77;H01L21/306;H01L21/3213
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 杨瑞
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种蚀刻液和使用了所述蚀刻液的阵列基板的制作方法,所述蚀刻液包括以下组分:10~20%质量百分比的过氧化氢;0.05~5%质量百分比的蚀刻抑制剂;0.1~2%质量百分比的氟化物组合物;0.5~5%质量百分比的硅蚀刻助剂;2~10%质量百分比的蚀刻添加剂;以及溶剂。所述蚀刻液对于源漏极层的铜/钼、铜/钛或铜/钼钛金属层有着蚀刻性能优异的效果且成本低,在保持器件高寿命的同时,可以蚀刻半导体层并降低金属残残留,从而降低后续干蚀刻制程带来的问题,甚至可以直接省去半导体层的干蚀刻制程,进而降低制作成本并且提高器件稳定性。
搜索关键词: 一种 蚀刻 使用 阵列 制作方法
【主权项】:
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