[发明专利]基于光纤点衍射干涉实验光线追迹的像差测量技术与装置在审
| 申请号： | 202111327287.5 | 申请日： | 2021-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN114018551A | 公开（公告）日： | 2022-02-08 |
| 发明（设计）人： | 陈凌峰;陈伟雄;张旭升 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光纤点衍射干涉实验光线追迹的像差测量技术与装置，属于光学测量技术领域。利用两个光纤点光源模拟空间中的任意一条入射光线，点衍射产生近似理想的球面波，通过待测透镜和薄膜分光镜，在两个CCD像面上发生干涉。出射光线与像面相交于两个点光源到达像面的光程差极值点，其坐标可通过干涉图处理得到，连接两个交点就能追迹出射光线的方向。沿子午和弧矢方向整体移动两个点光源，可以分别模拟两个面内不同孔径高的入射光线。旋转待测透镜可以模拟倾斜光线的入射。按照几何像差的定义测量了球面镜的四种几何像差。该方法原理和结构简单，且无需参考镜，能实现光学系统几何像差的直接测量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光纤 衍射 干涉 实验 光线 测量 技术 装置 | ||
【主权项】：
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