[发明专利]基于光纤点衍射干涉实验光线追迹的像差测量技术与装置

权利要求书

1.基于光纤点衍射干涉实验光线追迹的像差测量技术与装置，包括激光器，一分二光纤分束器，光纤(a、b)，薄膜分光镜(BS₁、BS₂)，单轴位移台，旋转台，无镜头CCD相机，压电陶瓷移相器，数字千分表，待测透镜，其特征在于，包括以下步骤：

第一步：搭建光路：激光器经过光纤耦合，分束后形成的两个光纤点光源，光纤点光源P_a、P_b和薄膜分光镜BS₁整体固定于单轴位移台，通过待测透镜、薄膜分光镜BS₂在两个CCD像面上发生干涉，移动位移台可以使P_a、P_b构成的虚拟光线到达被测透镜在该平面内的任一位置，待测透镜固定于旋转位移台，旋转被测透镜模拟轴外斜光线入射，点光源P_b所在的光纤缠绕在压电陶瓷移相器上，当移相器径向膨胀时拉伸光纤引入相移，采集两个CCD上的移相干涉图送入计算机进行处理；

第二步：模拟子午面内平行于光轴的入射光线，方法如下：若两个光纤点光源模拟的光线穿过被测透镜中心，就模拟了轴上入射光线，若两个光纤点光源和薄膜分光镜同时沿垂直光轴的方向移动，就模拟了不同孔径高的入射光线；

第三步：模拟子午和弧矢面内的斜入射光线，方法如下：两个光纤点光源分别为P_a、P_b，在待测透镜的子午面内，若P_a保持不动，P_b沿垂直光轴方向移动到P_b1，就可以模拟子午面内的轴外斜入射光线；若P_a1、P_b1和薄膜分光镜BS₁整体沿垂直光轴方向移动，就可模拟子午面内通过透镜不同孔径的斜入射光线；P_a1、P_b1和薄膜分光镜BS₁整体沿垂直于子午方向移动，就可模拟弧矢面内通过透镜不同孔径的斜入射光线。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，按照几何像差的定义，利用此方法对透镜的球差、彗差、场曲和像散进行了测量。