[发明专利]一种基于单粒子效应的存储器位图解析方法及系统在审
| 申请号： | 202111322447.7 | 申请日： | 2021-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN114065692A | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 郭金龙;杜广华;毛光博 | 申请（专利权）人： | 中国科学院近代物理研究所 |
| 主分类号： | G06F30/392 | 分类号： | G06F30/392;G06F30/327 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 王胥慧 |
| 地址： | 730013 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于单粒子效应的存储器位图解析方法及系统，其特征在于，包括：获取待解析存储器芯片的单粒子效应多位翻转数据；根据获取的单粒子效应多位翻转数据，判定子字节的结构；根据子字节的结构，判定待解析存储器芯片的交错类型，本发明能够以较小的代价获得高可信度的存储器交错类型，可以广泛应用于集成电路领域中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 粒子 效应 存储器 位图 解析 方法 系统 | ||
【主权项】：
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