[发明专利]一种用于半导体晶圆背面打磨的装置有效

专利信息
申请号: 202111305829.9 申请日: 2021-11-05
公开(公告)号: CN113732851B 公开(公告)日: 2022-02-01
发明(设计)人: 袁根;鲜浩 申请(专利权)人: 四川明泰微电子有限公司
主分类号: B24B7/22 分类号: B24B7/22;B24B41/06;B24B47/12;B24B41/00
代理公司: 成都诚中致达专利代理有限公司 51280 代理人: 杨春
地址: 641199 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 本申请提供一种用于半导体晶圆背面打磨的装置,属于晶圆制造领域,包括:运转机构包括可旋转的安装盘,安装盘多个安装孔。承载盘数量与安装孔相同,承载盘转动设于安装孔内,承载盘沿圆周设有多个沉孔,承载盘底部设有连接部。第一驱动部件位于安装盘下方,第一驱动部件包括驱动泵,沿驱动泵转轴的轴线方向移动设有驱动轴,打磨晶圆片时,驱动轴与承载盘的连接部相连。进料机构包括对位台及吸盘。打磨机构对应第一驱动部件设于安装盘上方,打磨机构设有打磨盘,安装盘的上方及下方对应打磨机构的位置设有密封罩。具有较高的使用安全性,同时便于维修检查,且具有较高的加工效率。
搜索关键词: 一种 用于 半导体 背面 打磨 装置
【主权项】:
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