[发明专利]一种用于半导体晶圆背面打磨的装置有效
申请号: | 202111305829.9 | 申请日: | 2021-11-05 |
公开(公告)号: | CN113732851B | 公开(公告)日: | 2022-02-01 |
发明(设计)人: | 袁根;鲜浩 | 申请(专利权)人: | 四川明泰微电子有限公司 |
主分类号: | B24B7/22 | 分类号: | B24B7/22;B24B41/06;B24B47/12;B24B41/00 |
代理公司: | 成都诚中致达专利代理有限公司 51280 | 代理人: | 杨春 |
地址: | 641199 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本申请提供一种用于半导体晶圆背面打磨的装置,属于晶圆制造领域,包括:运转机构包括可旋转的安装盘,安装盘多个安装孔。承载盘数量与安装孔相同,承载盘转动设于安装孔内,承载盘沿圆周设有多个沉孔,承载盘底部设有连接部。第一驱动部件位于安装盘下方,第一驱动部件包括驱动泵,沿驱动泵转轴的轴线方向移动设有驱动轴,打磨晶圆片时,驱动轴与承载盘的连接部相连。进料机构包括对位台及吸盘。打磨机构对应第一驱动部件设于安装盘上方,打磨机构设有打磨盘,安装盘的上方及下方对应打磨机构的位置设有密封罩。具有较高的使用安全性,同时便于维修检查,且具有较高的加工效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 半导体 背面 打磨 装置 | ||
【主权项】:
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