[发明专利]开关电容阵列芯片间时间差的校正方法、装置及存储介质在审
| 申请号： | 202111255715.8 | 申请日： | 2021-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN113985959A | 公开（公告）日： | 2022-01-28 |
| 发明（设计）人： | 卞忠伟;王冕;王英杰;况鹏;刘福雁;蔡佳乐;王培林;李道武;曹兴忠;章志明;王宝义;魏龙 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G06F1/04 | 分类号： | G06F1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人： | 刘镜 |
| 地址： | 100049 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种开关电容阵列芯片间时间差的校正方法、装置及存储介质，属于精密时间测量技术领域，解决了现有技术在多通道定时时间测量中校正方法复杂导致的校正效率低的问题。该方法包括：利用FPGA同时扇出多个相位一致的时钟信号，并将多个时钟信号分别输入至对应的开关电容阵列芯片中；通过每一开关电容阵列芯片对接收到的时钟信号进行模拟采样，并进行模数变换后获得数字化时钟信号；利用FPGA对数字化时钟信号进行在线计算对应获得每一开关电容阵列芯片的定时时间，进而获得每一开关电容阵列的校正系数，基于该校正系数对相应开关电容阵列芯片的定时时间进行校正。该方法能够提高极大的简化校正流程，提高校正效率。 | ||
| 搜索关键词： | 开关 电容 阵列 芯片 时间差 校正 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院高能物理研究所，未经中国科学院高能物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111255715.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
