[发明专利]一种硅基氮化镓器件的近结散热方法有效

专利信息
申请号: 202111248653.8 申请日: 2021-10-26
公开(公告)号: CN113990826B 公开(公告)日: 2022-11-29
发明(设计)人: 刘超;陈航 申请(专利权)人: 山东大学
主分类号: H01L23/473 分类号: H01L23/473;H01L21/335;H01L21/336;H01L33/00
代理公司: 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人: 王素平
地址: 250101 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明提供了一种硅基氮化镓器件的近结散热方法,包括步骤:对生长在硅衬底上的GaN层Ⅰ和硅衬底进行刻蚀,在GaN层Ⅰ上形成平行排列的V形缺口,每个V形缺口的底部设置有狭缝,所述狭缝垂直延伸至硅衬底内部;利用XeF2对硅衬底内部的狭缝进行进一步刻蚀,形成冷却通道;继续在GaN层Ⅰ上外延生长GaN层Ⅱ和功能层;对硅衬底背面进行刻蚀形成若干个矩形凹槽a和若干个矩形凹槽b,矩形凹槽a和矩形凹槽b交替周期排列;之后与载片键合,在载片底部设置冷却液的进口和出口;向冷却通道中注入冷却液,实现硅基氮化镓器件的散热。本发明的方法在近结区域附近引入高热导率的冷却液,有效解决了硅基氮化镓器件的散热问题。
搜索关键词: 一种 氮化 器件 散热 方法
【主权项】:
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