[发明专利]一种盘片自动化测试方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号： | 202111204483.3 | 申请日： | 2021-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN113903368B | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 李佳伟;黄慷明;邵逸波 | 申请（专利权）人： | 成都芯盛集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 赵菲 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种盘片自动化测试方法、装置、设备及存储介质，应用于控制端，包括：获取测试端上待测盘片的初始smart信息，对初始smart信息进行解析得到相应的初始目标参数；根据测试需求生成测试指令并将测试指令发送至测试端，以便测试端根据测试指令对待测试盘片的预设测试项进行第一测试；如果第一测试通过，则利用与第一测试后待测盘片的最终smart信息对应的最终目标参数和初始目标参数进行第二测试，如果第二测试通过，则判定待测盘片合格。本申请获取并解析待测盘片的初始smart信息得到初始目标参数，在第一测试通过的基础上，进一步利用最终目标参数与初始目标参数进行第二测试，整个测试过程自动化、可控程度较高，避免人工干预出错，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 盘片 自动化 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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