[发明专利]一种盘片自动化测试方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202111204483.3 申请日: 2021-10-15
公开(公告)号: CN113903368B 公开(公告)日: 2023-07-14
发明(设计)人: 李佳伟;黄慷明;邵逸波 申请(专利权)人: 成都芯盛集成电路有限公司
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18;G11C29/56
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 赵菲
地址: 610000 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 盘片 自动化 测试 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种盘片自动化测试方法,其特征在于,应用于控制端,包括:

获取测试端上待测盘片的初始smart信息,并对所述初始smart信息进行解析以得到相应的初始目标参数;

根据测试需求生成测试指令并将所述测试指令发送至所述测试端,以便所述测试端根据所述测试指令对所述待测试盘片的预设测试项进行第一测试;

如果所述第一测试通过,则利用与所述第一测试后所述待测盘片的最终smart信息对应的最终目标参数和所述初始目标参数进行第二测试,如果所述第二测试通过,则判定所述待测盘片合格;

所述根据测试需求生成测试指令并将所述测试指令发送至所述测试端,以便所述测试端根据所述测试指令对所述待测试盘片的预设测试项进行第一测试,包括:

利用解析后的所述初始smart信息确定所述待测试盘片的接口类型,得到相应的测试需求;

根据所述测试需求生成测试指令并将所述测试指令发送至所述测试端,以便所述测试端启动与所述测试指令对应的测试线程对所述待测试盘片的预设测试项进行第一测试;

在所述第一测试中,如果存在预设测试项测试失败,则直接生成测试日志并结束整个测试。

2.根据权利要求1所述的盘片自动化测试方法,其特征在于,所述获取测试端上待测盘片的初始smart信息之前,还包括:

初始化所述测试端;

根据访问权限启动所述控制端,并在所述控制端加载包括所述预设测试项的预设测试信息。

3.根据权利要求1所述的盘片自动化测试方法,其特征在于,所述对所述初始smart信息进行解析以得到相应的初始目标参数,包括:

对所述初始smart信息进行解析,将解析后的所述初始smart信息中的所述待测试盘片的型号名称、序列号及重映射扇区数确定为初始目标参数。

4.根据权利要求3所述的盘片自动化测试方法,其特征在于,所述利用与所述第一测试后所述待测盘片的最终smart信息对应的最终目标参数和所述初始目标参数进行第二测试,包括:

获取所述第一测试后所述待测盘片的最终smart信息,并对所述最终smart信息进行解析,将解析后的所述最终smart信息中的所述待测试盘片的型号名称、序列号及重映射扇区数确定为最终目标参数;

判断所述最终目标参数与所述初始目标参数是否一致,如果是,则第二测试通过。

5.根据权利要求1所述的盘片自动化测试方法,其特征在于,还包括:

分别生成与所述第一测试对应的第一测试日志和/或与所述第二测试对应的第二测试日志,当判定所述待测盘片合格,则根据所述第一测试日志和/或所述第二测试日志得到最终测试日志。

6.根据权利要求1至5任一项所述的盘片自动化测试方法,其特征在于,还包括:

接收所述测试端返回的所述待测盘片的实时测试结果,并将所述实时测试结果输出至所述控制端的人机交互界面进行实时显示。

7.一种盘片自动化测试装置,其特征在于,应用于控制端,包括:

获取模块,用于获取测试端上待测盘片的初始smart信息,并对所述初始smart信息进行解析以得到相应的初始目标参数;

第一测试模块,用于根据测试需求生成测试指令并将所述测试指令发送至所述测试端,以便所述测试端根据所述测试指令对所述待测试盘片的预设测试项进行第一测试;

第二测试模块,用于如果所述第一测试通过,则利用与所述第一测试后所述待测盘片的最终smart信息对应的最终目标参数和所述初始目标参数进行第二测试,如果所述第二测试通过,则判定所述待测盘片通过测试;

所述盘片自动化测试装置,还用于:

利用解析后的所述初始smart信息确定所述待测试盘片的接口类型,得到相应的测试需求;

根据所述测试需求生成测试指令并将所述测试指令发送至所述测试端,以便所述测试端启动与所述测试指令对应的测试线程对所述待测试盘片的预设测试项进行第一测试;

在所述第一测试中,如果存在预设测试项测试失败,则直接生成测试日志并结束整个测试。

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