[发明专利]一种磁共振成像系统中梯度磁场焦点的检测方法有效

专利信息
申请号: 202111190287.5 申请日: 2021-10-13
公开(公告)号: CN113933772B 公开(公告)日: 2023-08-22
发明(设计)人: 宁瑞鹏;李倩文 申请(专利权)人: 华东师范大学
主分类号: G01R33/385 分类号: G01R33/385
代理公司: 上海蓝迪专利商标事务所(普通合伙) 31215 代理人: 徐筱梅;张翔
地址: 200241 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种磁共振成像系统中梯度磁场焦点的检测方法。该方法利用施加正负梯度时梯度磁场中心的磁场强度不变的特点,结合磁场强度与质子共振频率之间的关系,测量各个方向上梯度磁场中心的偏移量,从而判断三路梯度磁场是否存在共同的中心,即判断是否存在梯度磁场焦点,以及确定梯度磁场焦点的位置。本发明提出的检测方法不需要额外的检测仪器,检测流程简单易行,可以测量各方向上梯度磁场中心的偏移量,不仅可以为校正梯度线圈装配误差提供参考依据,而且还可以为图像重建过程中的空间坐标校正提供有用信息。该方法特别适用于采用非网格点扫描模式采集数据的磁共振成像。
搜索关键词: 一种 磁共振 成像 系统 梯度 磁场 焦点 检测 方法
【主权项】:
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