[发明专利]一种磁共振成像系统中梯度磁场焦点的检测方法有效
申请号: | 202111190287.5 | 申请日: | 2021-10-13 |
公开(公告)号: | CN113933772B | 公开(公告)日: | 2023-08-22 |
发明(设计)人: | 宁瑞鹏;李倩文 | 申请(专利权)人: | 华东师范大学 |
主分类号: | G01R33/385 | 分类号: | G01R33/385 |
代理公司: | 上海蓝迪专利商标事务所(普通合伙) 31215 | 代理人: | 徐筱梅;张翔 |
地址: | 200241 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种磁共振成像系统中梯度磁场焦点的检测方法。该方法利用施加正负梯度时梯度磁场中心的磁场强度不变的特点,结合磁场强度与质子共振频率之间的关系,测量各个方向上梯度磁场中心的偏移量,从而判断三路梯度磁场是否存在共同的中心,即判断是否存在梯度磁场焦点,以及确定梯度磁场焦点的位置。本发明提出的检测方法不需要额外的检测仪器,检测流程简单易行,可以测量各方向上梯度磁场中心的偏移量,不仅可以为校正梯度线圈装配误差提供参考依据,而且还可以为图像重建过程中的空间坐标校正提供有用信息。该方法特别适用于采用非网格点扫描模式采集数据的磁共振成像。 | ||
搜索关键词: | 一种 磁共振 成像 系统 梯度 磁场 焦点 检测 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华东师范大学,未经华东师范大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202111190287.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种接触网标准化作业系统
- 下一篇:一种大型密封圈三维外形尺寸视觉测量系统