[发明专利]一种基于一维光子晶体缺陷模特性的空气湿度测量方法

摘要

本发明公开了一种基于一维光子晶体缺陷模特性的空气湿度测量方法，步骤1：将由介质A、介质B或者介质B、介质A交替排列N层的无缺陷的光子晶体中间一层的介质替换为介质C，形成缺陷光子晶体，N取大于5的奇数；步骤2：在不同环境湿度下，通过改变入射光中心频率，将入射光垂直入射缺陷光子晶体，获取透射系数缺陷峰对应的入射光中心频率，以及相应湿度与中心频率之间的对应关系；步骤3：通过测量入射光缺陷峰强度和中心频率，根据相应湿度与中心频率之间的对应关系反演出当前环境下的湿度。本发明测量精度高，检测范围广，材料获取简单，能够在保证精度的情况下，降低生产成本。