[发明专利]一种基于一维光子晶体缺陷模特性的空气湿度测量方法有效
| 申请号： | 202111184430.X | 申请日： | 2021-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN113899717B | 公开（公告）日： | 2023-06-13 |
| 发明（设计）人： | 梅永;庄建军;王身云 | 申请（专利权）人： | 南京信息工程大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41;G01N21/59;G01N27/22 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 母秋松 |
| 地址： | 224002 江苏省盐城*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光子 晶体缺陷 模特 空气 湿度 测量方法 | ||
1.一种基于一维光子晶体缺陷模特性的空气湿度测量方法，其特征在于：包括如下步骤：
步骤1：将由介质A、介质B或者介质B、介质A交替排列N层的无缺陷的光子晶体中间一层的介质替换为介质C，形成缺陷光子晶体，N取大于5的奇数；
步骤2：将缺陷光子晶体中的介质A、介质B的光学厚度均设置为，介质C光学厚度设置为，表示入射光的中心波长，在不同环境湿度下，通过改变入射光中心频率，将入射光垂直入射缺陷光子晶体，获取透射系数缺陷峰对应的入射光中心频率，以及相应湿度与透射系数缺陷峰对应的入射光中心频率之间的对应关系；
步骤3：通过测量入射光缺陷峰强度和透射系数缺陷峰对应的入射光中心频率，根据相应湿度与透射系数缺陷峰对应的入射光中心频率之间的对应关系反演出当前环境下的湿度；
所述介质A采用氧化铝，介质B采用氮化铝；
所述介质C采用二氧化硅。
2.根据权利要求1所述的一种基于一维光子晶体缺陷模特性的空气湿度测量方法，其特征在于：介质A采用罗杰斯5880的微波电路基片，介质B采用罗杰斯6010的微波电路基片。
3.根据权利要求1所述的一种基于一维光子晶体缺陷模特性的空气湿度测量方法，其特征在于：入射光的中心波长设置为800nm。
4.根据权利要求1所述的一种基于一维光子晶体缺陷模特性的空气湿度测量方法，其特征在于：入射光频率变化范围设置为3.16×1014Hz到5×1014Hz。
5.根据权利要求1所述的一种基于一维光子晶体缺陷模特性的空气湿度测量方法，其特征在于：透射系数采用传输矩阵法进行计算。
6.根据权利要求1所述的一种基于一维光子晶体缺陷模特性的空气湿度测量方法，其特征在于：缺陷光子晶体设置为(AB)4C(BA)4、或者(BA)4C(AB)4。
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