[发明专利]一种基于太赫兹波段磁光光谱的铬基尖晶石测试系统有效
| 申请号： | 202111184051.0 | 申请日： | 2021-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN113720784B | 公开（公告）日： | 2023-03-24 |
| 发明（设计）人： | 张朋 | 申请（专利权）人： | 阜阳师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21;G01N21/3563;G01N21/3581 |
| 代理公司： | 安徽善安知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34200 | 代理人： | 陈庭 |
| 地址： | 23600*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于太赫兹波段磁光光谱的铬基尖晶石测试系统，包括超导磁体和可旋转样品架，所述可旋转样品架安装在超导磁体的中部，在超导磁体的左侧和右侧分别设有太赫兹偏振调节模块和太赫兹探测模块，所述超导磁体的上侧和下侧均设有反射板。本发明通过设有的超导磁体、水平光学窗口、垂直光学窗口、太赫兹偏振调节模块和太赫兹探测模块，可以探测太赫兹波矢、偏振、磁场方向和待测样品晶向的多种参数组合模式下待测样品材料磁电耦合的微观机理，调节太赫兹波的强度，同时可以确定所需的太赫兹入射光角度，有利于最大效率探测太赫兹分量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 赫兹 波段 光谱 尖晶石 测试 系统 | ||
【主权项】：
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