[发明专利]一种基于太赫兹波段磁光光谱的铬基尖晶石测试系统

权利要求书

1.一种基于太赫兹波段磁光光谱的铬基尖晶石测试系统，包括超导磁体（1）和可旋转样品架（2），其特征在于：所述可旋转样品架（2）安装在超导磁体（1）的中部，在超导磁体（1）的左侧和右侧分别设有太赫兹偏振调节模块（3）和太赫兹探测模块（4），且在太赫兹偏振调节模块（3）和太赫兹探测模块（4）的下侧均开设有高度调节模块（5），所述超导磁体（1）的上侧和下侧均设有反射板（6），且反射板（6）外侧均设有角度调节模块（7），所述超导磁体（1）的左端和右端中部对称开设有水平光学窗口（8），且超导磁体（1）的上端和下端中部对称开设有垂直光学窗口（9）；所述水平光学窗口（8）的中心点与可旋转样品架（2）的中心点在同一直线上；所述垂直光学窗口（9）的中心点与可旋转样品架（2）的中心点和反射板（6）的中心点均在同一直线上。

2.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹波段磁光光谱的铬基尖晶石测试系统，其特征在于：所述太赫兹偏振调节模块（3）由两个可独立旋转的金属线栅偏振器和连接框架组成，且两个可独立旋转的金属线栅偏振器的中心在同一水平线上，所述太赫兹偏振调节模块（3）下侧的高度调节模块（5）设置在太赫兹偏振调节模块（3）的连接框架下侧。

3.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹波段磁光光谱的铬基尖晶石测试系统，其特征在于：所述太赫兹探测模块（4）由位于左侧可旋转的金属线栅偏振器和位于右侧固定的金属线栅偏振器以及连接框架组成，所述太赫兹探测模块（4）下侧的高度调节模块（5）设置在太赫兹探测模块（4）的连接框架下侧。

4.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹波段磁光光谱的铬基尖晶石测试系统，其特征在于：所述太赫兹探测模块（4）中位于左侧的可旋转的金属线栅偏振器存在两种配置状态，一种配置状态是金属线栅偏振片的金属线栅与过偏振器中心的电场分量Ex、电场分量Ey所在的平面中的电场分量方向呈45度夹角，另一种配置状态下的金属线栅与上述金属线栅的分布方向垂直。