[发明专利]光通讯用芯片的老化测试系统在审
| 申请号： | 202111147468.X | 申请日： | 2021-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN113933545A | 公开（公告）日： | 2022-01-14 |
| 发明（设计）人： | 黄建军;胡海洋;罗跃浩 | 申请（专利权）人： | 苏州联讯仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 王健 |
| 地址： | 215011 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种光通讯用芯片的老化测试系统，包括：2个并排设置的箱体、设置于每个箱体顶部的配电系统、安装于一个箱体上的控制面板和安装于另一个箱体上的置物板，每个所述箱体内沿竖直方向间隔设置有若干个隔热板，从而在上下相邻的两个隔热板与箱体之间围成一炉腔，每个所述炉腔内可抽拉地安装有至少一个单元抽屉，所述箱体的底部具有一风仓，所述箱体内具有一沿竖直方向设置的落灰通道，落灰通道底部并位于过滤网相背于风仓的一侧活动安装有一集尘盒。本发明既可以保证测试温度环境的稳定性，又可以实现对炉腔内灰尘杂质的及时收集排出，保证长期使用过程中对芯片的测试精度和测试装置整体的稳定性、安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 通讯 芯片 老化 测试 系统 | ||
【主权项】：
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