[发明专利]设计磁障内永磁体长度的方法、系统、终端及存储介质

摘要

本发明公开了一种设计磁障内永磁体长度的方法及其系统，其方法包括：根据转子结构建立如下等效磁路模型：第i层磁障和嵌于该磁障内的永磁体等效为并联结构且具有第i等效磁阻R′mi，穿过第i等效磁阻R′mi的磁通为第i等效磁通Φ′mi；穿过第i气隙磁阻Rgi的磁通为第i气隙磁通Φgi，前i层磁障至定子的磁路等效于前i‑1层的磁路与第i气隙磁阻Rgi并联后再与第i等效磁阻R′mi串联；第i层永磁体剩磁磁通Φremi包括第i等效磁通Φ′mi和第1至第i气隙磁通；获取第i气隙磁密Bavgi，根据第i气隙磁密和等效磁路模型求解第i层的永磁体长度。根据转子结构建立磁路等效模型，可以快速地确定多层磁障内不同永磁体的长度，极大地提高了电机设计初期永磁体用量的评估效率。